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2024-05

集成电路晶圆测试常规项目│武汉光谷薄膜技术有限公司整理

武汉光谷薄膜技术有限公司整理了不同类型的集成电路都有的一些晶圆常规测试项目。以下是这些项目的测试方法 ...

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2024-05

集成电路自测特征分析通常作为几种测试方法的补充│光谷薄膜

上一章光谷薄膜说完了内建自测试技术、其实集成电路自测特征分析通常作为多种测试方法的补充、涵盖电路内部 ...

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2024-05

集成电路内建自测试技术│武汉光谷薄膜

前面武汉光谷薄膜提到了关于集成电路扫描设计技术。现在我们继续说集成电路内建自测试技术。集成电路的内建 ...

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2024-05

集成电路微控制器测试减少干扰扫描路径方法│武汉光谷薄膜

武汉光谷薄膜前面说了集成电路微控制器测试随机存取扫描、今天我们了解下集成电路微控制器测试减少干扰扫描 ...

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2024-05

集成电路微控制器测试随机存取扫描│武汉光谷薄膜

前面武汉光谷薄膜提到最常见的扫描设计实现方式是采用数据选择器、这样可以把时序电路的测试转换为组合电路 ...

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2024-05

集成电路扫描设计技术参考-武汉光谷薄膜

武汉光谷薄膜整理了集成电路扫描设计技术介绍供大家参考。时序电路测试比组合逻辑电路测试要复杂。为了使电 ...

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2024-05

探针台等设备在集成电路测试中增加控制线及观察点

数字调谐系统芯片增加控制线及观察点的具体做法如下¦1)测试状态的建立根据该系统上电时复位输入端RES ...

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2024-05

针对集成电路链接探针台等设备外引脚有限的可测性设计方法

电路测试方法包括模块划分、增加控制线及观察点、消除电路中的冗余逻辑等。下面以实际电路为例具体介绍两种 ...

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2024-05

集成电路可测性设计、也包括简化测试探针台等设备

随着集成电路规模的快速增大、集成电路测试的困难和复杂度也不断增加。因此在集成电路设计阶段就要考虑测试 ...

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2024-05

普通探针台对于集成电路伪随机测试法相对容易实现

伪随机测试生成方法是一种测试方法、它可以生成符合随机特征数据的测试图形。这种方法通常由微处理器的测试 ...

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