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集成电路微控制器测试随机存取扫描│武汉光谷薄膜

前面武汉光谷薄膜提到最常见的扫描设计实现方式是采用数据选择器、这样可以把时序电路的测试转换为组合电路的测试、降低了时序电路测试的复杂性。


今天来了解微控制器测试随机存取扫描的方法。这种方法与扫描路径法、电平相关扫描技术的目标相同、即对电路内部的记忆元件具有完整的可控制性和可观察性。


不同之处是不需引人移位寄存器、而需引人地址可编程模块、使得内部所有记忆元件可以被唯一地选择、以便对记忆元件状态进行控制和观察、而这种地址可编程的机理同RAM相似。


使用随机存取扫描方法的系统组态包含地址、译码器、地址可编程的存储元件、系统时钟以及清零功能等部分、同样有扫描数据输入端、扫描数据输出端以及扫描时钟、另外还需有一个门来产生置位功能。


随机存取扫描方法使得系统中所有的记忆元件可控制和可观察。在组合逻辑的网络中、也可用这种方法、只要在每个观察点增加一个门和地址即可。


后面武汉光谷薄膜会继续为大家讲解“微控制器测试减少干扰扫描路径方法”。

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