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集成电路扫描设计技术参考-武汉光谷薄膜

武汉光谷薄膜整理了集成电路扫描设计技术介绍供大家参考。时序电路测试比组合逻辑电路测试要复杂。为了使电路进入相应状态、需要施加输人信号以便状态之间进行转换、并在输出端检测是否进入了相应状态且能够进行预期的转换。


为了达到上述目的、在只增加少数输人、输出端的前提下、能够控制和观察电路内部各触发器的状态、比较有效的方法是采用扫描设计技术。这种方法通过把内部各触发器的状态送到一个移位寄存器,以便观察;同时又可以把移位寄存器的状态送回触发器、从而实现对各触发器的控制。


对于采用扫描设计技术的待测电路来说、其工作状态分为正常工作和移位寄存器工作两种方式。最常见的扫描设计实现方式是采用数据选择器、这样可以把时序电路的测试转换为组合电路的测试、降低了时序电路测试的复杂性。  采用扫描设计技术的可测性设计方法很多、如全扫描技术、部分扫描技术和边界扫描技术等。武汉光谷薄膜会陆续介绍微控制器测试随机存取扫描和减少干扰扫描路径方法。

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