伪随机测试生成方法是一种测试方法､它可以生成符合随机特征数据的测试图形｡这种方法通常由微处理器的测试软件算法或专用的片上测试电路来生成､比较容易｡探针台等设备若有足够长的测试图形､就能够产生比较高的故障覆盖率｡
故障覆盖率F与测试图形长度L之间的关系可以表示为下面公式､式中A对于每一个给定的电路来说是一个常数｡
伪随机测试要满足要求故障覆盖率;测试图形长度该取多少;生成可靠且易于实现的伪随机序列等｡
生成伪随机序列通常采用两种方法:
(1)同余法;
(2)用无输人的线性反馈寄存器构成伪随机序列生成电路｡
传统结构的伪随机生成方法存在以下两个缺点：
(1)随机测试图形大量不断变化的位码使得测试功耗大大增加；
(2)伪随机测试中常用的是固定型故障模型､此模型难以描述CMOS深亚微米中的缺陷｡这促使伪随机测试技术不断发展｡为此在探针台等设备内建自测试技术中出现了一种全新的测试生成电路､即输入单个位变化的伪随机测试生成电路､该电路可以同时生成检测固定型故障以及CMOS其他类型故障的测试图形｡
