电路测试方法包括模块划分､增加控制线及观察点､消除电路中的冗余逻辑等｡下面以实际电路为例具体介绍两种方法｡
1. 模块划分
这种方法将一个复杂的电路划分成若干个子电路或者模块､然后通过一些附加选择逻辑､在芯片测试的不同阶段将测试信号分别选通各个小模块､从而提高电路的可测试性｡划分过程中通常采用数据总线结构和数据选择器进行｡
在一个数字调谐系统功能框图中可以清楚地看到､该芯片由CU､I/O口及锁相环三大模块组成､而MCU部分又分成ROM､RAM､指令译码器､程序计数器堆栈寄存器及ALU等模块､通过地址总线和数据总线相互连接｡对于这样的电路划分､电路的可测试性可明显提高｡
2. 增加控制线及观察点
增加控制线和观察点的目的是使得电路内部的状态可控与可观察｡
针对时序电路单元中的复位端、置位端、时钟信号等可以设置控制线､以便根据测试需要把该单元设置到相应的状态｡对于电路中的一些反馈线也可以设置控制线､目的是在测试阶段将反馈逻辑断开｡
由于一个集成电路链接探针台等设备的外引脚数量通常是有限的､因此在增加观察点时尽量减少外部控制点和观察点､最大限度地增加内部的控制点和观察点｡通过外引脚的复用和利用数据选择器等方法可以达到增加观察点的目的｡
