伪穷举测试是集成电路测试技术中的一种方法､它可以大大减少探针台等设备总的测试次数和时间｡伪穷举测试具 ...

探针台基于通路敏化进行集成电路测试码生成的具体步骤如下￤1･设置故障效应｡最常用的故障模型为固定电平 ...

通过探针台的集成电路测试技术中､测试码生成的方式主要有两种￤基于故障的确定性测试生成方法和生成符合随 ...

随着集成电路设计和制造技术的发展､一个集成电路芯片上可能集成了上千万个甚至更多的元件｡由于上面提到的 ...

探针台一般会联用到一些源表､对测试对象输入输出电流电压､从而达到一些电学测试目的｡静态电参数测试对于 ...

在进行探针台､测试机等设备的电路测试前､我们需要了解集成电路的基本性能指标､特别是电性能和电参数､它 ...

对于集成电路晶圆测试来说､通常要经过以下几个工艺步骤￤1.合格晶圆接收；2.晶圆烘焙；3.晶圆测试； ...

集成电路测试系统在执行过程中､通过以下几个步骤来得出测试结果￤1･测量值记录方法通过探针台等测试收到 ...

集成电路的性能和特性主要受到电路设计和制造工艺的影响､同时也与电路的工作条件､如电源电压､环境温度等 ...

集成电路缺陷､故障和失效是集成电路设计和制造过程中的重要概念｡在研发阶段用探针台来检测是比较常见的｡ ...