二维码 手机扫一扫

全国咨询热线
13164676739
15629038374

客户动态

集成电路缺陷、故障和失效分析可以用探针台来做

集成电路缺陷、故障和失效是集成电路设计和制造过程中的重要概念。在研发阶段用探针台来检测是比较常见的。


通常、集成电路有两种工作状态¦正常和非正常。


导致集成电路处于非正常工作状态的因素包括设计过程中考虑不周全和制造过程中的一些物理、化学因素。


上述造成集成电路不符合技术条件从而不能正常工作的各种因素统称为集成电路缺陷。


如果集成电路缺陷导致其功能发生变化、则称为故障。故障有可能导致集成电路失效、但也有可能会不失效。


故障诊断可以通过集成电路测试来确定其故障、因此有时也称为故障检测。


故障检测主要检验电路是否实现了预定的功能、是否发生了故障。


故障定位是在故障检测的基础上进一步确定发生了何种故障。


探针台可以对集成电路缺陷、故障和失效分析都是有一定的帮助的!

tag标签: 探针台,电学探针台,集成电路探针台,集成电路,电路缺陷探针台,电路故障探针台,电路失效探针台,集成电路缺陷,集成电路故障,集成电路失效,
全国咨询热线

13164676739

027-86645269

武汉光谷薄膜技术有限公司 版权所有
地址:湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号C1-1综合保税区一期01号标准厂房5层北面部分区域01室
手机:13164676739 微信:15629038374 电话:027-86645269
武汉光谷薄膜技术有限公司 鄂ICP备2024045272号-1

菲菲:
手机(微信):
13164676739
陈经理:
手机(微信):
15629038374

cache
Processed in 0.008566 Second.