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探针台通路敏化集成电路测试码生成步骤

探针台基于通路敏化进行集成电路测试码生成的具体步骤如下¦


1・设置故障效应。最常用的故障模型为固定电平故障、是指导致电路中某一个节点电平为固定值的这一类故障。


2・确定传输通路。通过对有限数目的输人端和输出端进行测量来实现,而对于集成电路来说、通常利用计算机预先生成一个确定的测试码集、并执行测试程序、这种方法就是预定向量测试。


3・将该通路进行敏化。通路敏化法是使故障至少沿一条通路敏化、即适当选择原始输入值使故障位置的正常信号值与故障值相反。在故障情况下、随着此信号值改变、线路内至少应有一个输出端的值受其影响而改变、即敏化为故障。


4・设置电路外输入端的逻辑值。寻找一个输入组合并将之施加到电路输入端使得故障点产生了预定的故障效应(通过该效应、使得电路中某节点的正常电平与发生故障时的不同)、并且使得该点到电路的某一个输出端之间有一条通路敏化、那么这个输入组合就是上述给定故障的一个测试码。上述各个外输入端的逻辑值就组成了一个测试码。


探针台对于基于故障的确定性测试生成方法来说、通常要求用专门的算法对特定的故障生成测试图形、如D算法、PODEM算法、FAN算法、FASTEST算法和CONTEST算法等。这种方法生成的测试图形相对来说长度短、但生成过程比较复杂、生成的测试施加也比较困难。

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