二维码 手机扫一扫

全国咨询热线
13164676739
15629038374

客户动态

探针台等集成电路测试方式和判断

集成电路测试系统在执行过程中、通过以下几个步骤来得出测试结果¦


1・测量值记录方法


通过探针台等测试收到记录测量值、这种方法仅记录实际的全部或部分测试数据、或者仅记录失效参数、以便后续进行统计分析。


2・变更输入条件下的测量值记录方法


这种方法是在原有测量值记录方法的基础上、改变输入参数、并记录相应的测试数据及其对应的输入激励。通过评估不同输入情况下各个参数之间的关系、可以更全面地了解产品的性能。


3・合格性判断方法


在使用这种方法之前、需要事先确定各个参数的测试标准。如果实际测试数据在测试标准范围内、则判断为合格品;否则判断为不合格品。这种方法主要用于生产性测试、同时也可以进行失效参数的统计分析。


4・测试程序调试方法


当在探针台等测试过程中发现错误时、需要对测试程序进行修改调试。这时就需要采用这种方法。

tag标签: 探针台,集成电路测试,电学探针台,集成电路探针台,集成电路,电路探针台,集成电路测试探针台,集成电路测试技术,
全国咨询热线

13164676739

027-86645269

武汉光谷薄膜技术有限公司 版权所有
地址:湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号C1-1综合保税区一期01号标准厂房5层北面部分区域01室
手机:13164676739 微信:15629038374 电话:027-86645269
武汉光谷薄膜技术有限公司 鄂ICP备2024045272号-1

菲菲:
手机(微信):
13164676739
陈经理:
手机(微信):
15629038374

cache
Processed in 0.010603 Second.