集成电路测试系统在执行过程中､通过以下几个步骤来得出测试结果￤
1･测量值记录方法
通过探针台等测试收到记录测量值､这种方法仅记录实际的全部或部分测试数据､或者仅记录失效参数､以便后续进行统计分析｡
2･变更输入条件下的测量值记录方法
这种方法是在原有测量值记录方法的基础上､改变输入参数､并记录相应的测试数据及其对应的输入激励｡通过评估不同输入情况下各个参数之间的关系､可以更全面地了解产品的性能｡
3･合格性判断方法
在使用这种方法之前､需要事先确定各个参数的测试标准｡如果实际测试数据在测试标准范围内､则判断为合格品；否则判断为不合格品｡这种方法主要用于生产性测试､同时也可以进行失效参数的统计分析｡
4･测试程序调试方法
当在探针台等测试过程中发现错误时､需要对测试程序进行修改调试｡这时就需要采用这种方法｡
