上一章光谷薄膜说完了内建自测试技术､其实集成电路自测特征分析通常作为多种测试方法的补充､涵盖电路内部 ...

前面武汉光谷薄膜提到了关于集成电路扫描设计技术｡现在我们继续说集成电路内建自测试技术｡集成电路的内建 ...

武汉光谷薄膜前面说了集成电路微控制器测试随机存取扫描､今天我们了解下集成电路微控制器测试减少干扰扫描 ...

前面武汉光谷薄膜提到最常见的扫描设计实现方式是采用数据选择器､这样可以把时序电路的测试转换为组合电路 ...

武汉光谷薄膜整理了集成电路扫描设计技术介绍供大家参考｡时序电路测试比组合逻辑电路测试要复杂｡为了使电 ...

武汉光谷薄膜技术有限公司成立于2018年｡总部位于武汉东湖综合保税区｡该公司作为国家高新技术企业､以 ...