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集成电路伪穷举测试可减少探针台等设备总测试次数

伪穷举测试是集成电路测试技术中的一种方法,它可以大大减少探针台等设备总的测试次数和时间。伪穷举测试具体方法如下:


- 根据待测电路的输出对输入的依赖关系,通常可以把待测电路分成两大类:全局相关电路和局部相关电路。对于局部相关电路,假设其输入端数量为n,输出端数量为m。如果不进行电路划分直接通过输入组合进行测试,则测试次数为2^n;如果把该电路划分成m个子电路,那么每一个子电路的输入端数量n∨i肯定小于n,分别对这些子电路进行穷举测试,总的测试次数为N。这种方法总的测试次数N肯定小于2^n。

总测试次数


- 对于全局相关电路,探针台等设备不能按照上面的方法进行电路的划分来达到减少测试次数的目的,需要采用其他电路划分方法。

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