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探针台应用:集成电路测试码生成的方法

通过探针台的集成电路测试技术中,测试码生成的方式主要有两种:基于故障的确定性测试生成方法和生成符合随机特征数据的测试生成方法。


前文中已经提到,如果一个集成电路未能实现其全部功能,那么电路中一定存在故障;

反之如果电路中没有任何故障,那么该电路则必定实现其预期设计的功能。

因此,人们开始研究电路缺陷,并提出各种故障模型,其中最常用的故障模型为固定电平故障和固定开路故障两大类。

下面将具体介绍一下固定电平故障以及为检测这种故障而进行的测试码生成的具体方法。


所谓固定电平故障,是指导致电路中某一个节点电平为固定值的这一类故障。这是被广泛采用的故障模型,集成电路中的开路或短路等都可以等效为固定电平故障。


检测固定电平故障,即进行故障诊断,一般通过对有限数目的输人端和输出端进行测量来实现,而对于集成电路来说,通常利用计算机预先生成一个确定的测试码集,并执行测试程序,这种方法就是预定向量测试。


预定向量测试故障诊断方法根据测试码生成方法的不同,分为确定性生成、随机生成和混合生成三大类,其中确定性生成最为成熟。


确定性测试码生成方法又分为通路敏化法、因果函数法、图论法和功能验证法等。其中通路敏化法是使故障至少沿一条通路敏化,即适当选择原始输入值使故障位置的正常信号值与故障值相反。在故障情况下,随着此信号值改变,线路内至少应有一个输出端的值受其影响而改变,即敏化为故障。


对于一个给定的故障,通过寻找一个输入组合并将之施加到电路输入端使得故障点产生了预定的故障效应(通过该效应,使得电路中某节点的正常电平与发生故障时的不同),并且使得该点到电路的某一个输出端之间有一条通路敏化,那么这个输入组合就是上述给定故障的一个测试码。

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