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探针台等设备在集成电路测试中增加控制线及观察点

数字调谐系统芯片增加控制线及观察点的具体做法如下:

1)测试状态的建立

根据该系统上电时复位输入端RESET的状态来决定是否进入复位状态。test为测试状态控制信号,上电时,若RESET-0,则test=1,电路处于测试状态;若RESET=1,则test=0,电路处于正常工作状态。rst为系统清零信号,上电或RESET=0时,rst-1,系统处于清零状态,平时rst=0,电路正常工作。

芯片测试状态建立时序

2)内部测试控制信号的产生

芯片处于探针台等设备测试状态时,由外输人端来实现电路内部多个测试控制状态信号的组合,内部测试状态控制信号,这些信号用来控制数字调谐系统芯片在测试状态下的运行情况。

3)内部测试控制信号控制产生测试时序信号上面产生的内部测试状态控制信号的第一个作用是产生测试时序信号,这些时序信号直接控制指令的外部输人、ROM内容及程序计数器(PC)内容的输出检测等,测试数据流程。

测试数据流程

有了测试状态控制信号和时序信号,测试工作便可进行。写入RAM的数据可以从COM1~COM4四个输出端输出。由于大部分指令执行结果均送入RAM,因此此节拍可用来检查每条指令执行结果是否正确。在T2~T4节拍中,程序计数器PC的内容在移位脉冲L197作用下分三次从COM1~COM4读出:T2:PC10~PC7;T3:PC6~PC3;T4:PC2~PC0,最低位补上H。在T5~T8节拍中,指令分四次(先高位后低位)从COM1~COM4移入ROM输出移位寄存器。另外,在这些控制信号作用下,ROM的内容也可从COM1~COM4输出。

测试仿真波形

4)内部测试控制信号控制外部信号输入

内部测试控制信号的第二个作用是控制外部信号的输入。这些外部信号包括测试时序主时钟、MCU主时钟、MCU时序信号产生控制信号、锁相环部分的相位比较器fe/fs输人、条件计数器选通脉冲时钟输入等  。这些外部输入信号的作用是使电路中的测试部分状态翻转,还可加快测试。

5)内部测试控制信号控制关键信号输出

为了提高探针台等设备对集成电路可测性,常常要知道电路内部一些关键信号的状态。因此要将这些信号输出,例如内部MCU时序信号、定时器主时钟信号、晶振停振控制信号、程控分频器/参考分频器输出等。

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