探针台原理 04-24 15:34 作者 : 武汉光谷薄膜技术有限公司 探针台 │ 百科 探针台为小尺寸样品测量电特性、PID自整定连续多点控温、提供高精度可控的测量环境、帮助精准测量和分析判断晶圆器件的性能。探针台设备通过定制样品台和测量方式、可以实现¦基础测试;保护气氛电路测试;高低温真空探针台;超高频探针台;光电流分析;FA失效分析等测量和分析平台。 探针台设备原理¦是由液氮和加热棒共同作用实现样品台温度在-196--400℃范围内连续变化的装置;并搭载可调节的探针、能够在良好的温度梯度和稳定性的温度场下、连接样品和客户检测设备;可实现在低温下或变温下电学、热学、光学等性能测试。 探针台原理相关百科 探针台组成探针台参数探针台用途探针台使用探针台特点
探针台设备原理¦是由液氮和加热棒共同作用实现样品台温度在-196--400℃范围内连续变化的装置;并搭载可调节的探针、能够在良好的温度梯度和稳定性的温度场下、连接样品和客户检测设备;可实现在低温下或变温下电学、热学、光学等性能测试。