探针冷热台可对材料不同温度下进行C-F和C-V测试

在材料科学和电化学领域､研究材料的电学性能和潜在应用需要了解其在不同温度下的 C-F 和 C-V 特性｡为了满足这一需求､光谷薄膜探针冷热台可以适配一些电化学工作站､以便在不同温度条件下进行 C-F 和 C-V 测试｡

该产品具有以下参数特点￤

1. 温度范围￤-190°C 至 600°C;

2. 温度稳定性￤±0.1°C;

3. 变温速率￤0°C/min(连续变温)或 80°C/min(逐点控温);

4. 样品台尺寸￤30 × 30mm;

5. 探针￤最多可选择 4 路钨材质(可根据需求定制)､杠杆式探针支架､接口同轴 BNC｡

C-F 和 C-V 测试如下￤

首先､在设定的温度下进行 C-F 测试｡通过改变频率并记录电容值的变化､分析材料的电容特性与频率的关系｡观察不同频率下电容值的波动情况､以及是否存在明显的频率依赖性｡

其次､在同一温度下进行 C-V 测试｡通过改变电压并记录电容值的变化､分析材料的电容特性与电压的关系｡观察不同电压下电容值的变化趋势､以及是否存在非线性或滞后现象｡

光谷薄膜探针冷热台可以在不同温度下进行 C-F 和 C-V 测试｡它不仅具有高精度和高稳定性的温度控制能力､还具备强大的电化学测试功能､为深入研究材料的电化学性能提供了有力工具｡