冷热台大全

扫描电镜冷热台（简称“SEM冷热台”）是一种安装在扫描电镜（SEM）上研究样品原位变温显微结构的配件设备､ 无需改造电镜内部结构､通过定制外接装置 ､ 操作温控系统实现对冷热台上样品的温度｡产品采用液氮致冷､电阻加热的方式､提供-190~200℃或RT~1500℃的变温环境｡

光学冷热台是一款针对研究材料变温光学性能测试而设计的产品､可表征材料光学性能随温度变化的特征｡产品采用液氮致冷､电阻加热的方式､实现-190~600℃范围内精准控制､与其他光学设备（如显微镜、拉曼光谱等）搭配集成､进行变温原位测试｡

光学热台可表征材料光学性能随温度变化的特性｡产品采用电阻加热的方式､实现RT~1600℃范围内精准控制､与其他光学设备（如显微镜、拉曼光谱等）搭配集成､进行变温原位测试｡

显微镜冷热台是一款针对研究材料变温光学性能测试而设计的产品､可表征材料光学性能随温度变化的特征｡采用液氮制冷､电阻加热的方式､实现-190℃~600℃或RT~1200℃范围内精准控制､与其他光学设备（如显微镜、拉曼光谱等）搭配集成､进行变温原位测试｡根据需要､还可以选型光反射或光透射模式｡

电学冷热台是一款针对研究材料变温电学性能测试而设计的产品｡可表征材料电学性能随温度变化的特征｡该产品采用电阻加热的方式､实现RT~600℃范围内精准控制､与其他电学仪表（如电桥､源表､万用表等）搭配集成､进行变温原位测试｡

电学热台是一款针对材料变温测试而设计的产品，产品尺寸小巧､使用便捷､可进行光学､电学测试｡采用电阻加热的方式､实现RT ~200℃范围内控温､与其他光学､电学仪器组合搭配､进行变温原位测试｡

探针冷热台可表征材料电学性能随温度变化的特征｡产品采用液氮致冷､电阻加热的方式､实现-190~600℃或RT~1600℃范围内精准控制､与其他电学仪表（如电桥､源表､万用表）搭配集成､进行变温原位测试｡搭配探针实现变温电学测试｡

半导体冷热台又称帕尔贴冷热台､利用半导体的热-电效应制冷､配合循环水散热､在-30~150℃的温度范围内进行控温､实现材料在开放式/气密/真空环境下的变温光学､电学等测试｡产品无需液氮致冷耗材､具有无噪声､无振动､体积小､重量轻等特点｡支持与各类显微镜､光谱仪等光学仪器设备联用､可以实现变温光学测试､或者选配探针实现变温电学测试｡

原位拉伸冷热台采用液氮致冷､电阻加热的方式､实现-190~600℃温度下材料的动态应力应变特性测试､可与显微分析､电学分析相结合｡

原位SEM拉伸冷热台是一款在扫描电镜下研究材料在变温条件下进行应力应变测试的产品。原位拉伸模块可以设定恒力或恒速方式进行拉伸､压缩､或者按程序段进行往复运动｡产品采用液氮致冷､电阻加热的方式､实现-190~200℃或RT~ 1500℃温度下材料的动态应力应变特性测试，可与显微分析､电学分析相结合｡

拉伸试验机冷热台一种安装在万能试验机上研究材料在变温条件下进行应力应变测试的产品｡ 产品采用液氮致冷､电阻加热的方式､实现-190~600℃或RT~ 1500℃温度下材料的动态应力应变特性测试､可选DIC､视频引伸计实现应变数据的高精度采集｡

原位XRD冷热台是一种安装在X-射线衍射仪上研究材料变温X-射线衍射的配件仪器｡原位XRD冷热台与各种X-射线衍射仪适配集成产品采用液氮致冷､电阻加热的方式､提供-190~600℃或RT~ 1500℃温度范围内的气氛/真空测试环境｡支持在各种X-射线衍射仪上定制样品台进行适配｡

原位电池冷热台针对电化学电池研究､设计的多款原位测试装置｡ 可实现原位XRD测试､光学测试等､同时可提供提-190~600℃变温环境；与其他光学设备（如显微镜等）搭配集成､进行变温光学原位测试｡