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晶圆探针台HCP-1W

晶圆探针台HCP-1W

产品描述:

晶圆探针台HCP-1W,在常温环境下用于晶片、晶圆、芯片等多种器件的精密电测量。可以实现基础测试、保护气氛电路测试、高低温真空探针台、超高频探针台、光电流分析、FA失效分析等测量和分析平台。

■晶圆探针台HCP-1W产品特点:


● 产品功能:晶圆探针台在常温环境下用于晶片、晶圆、芯片等多种器件的精密电测量;

● 使用范围:帮助精准测量和分析判断晶圆器件的性能。

● 应用领域:提供材料/器件的IV/CV特性测试、LD/LED/PD的光强/波长测试、射频特性器件失效分析、芯片内部线路/电极/PAD测试等技术解决方案;

● 定制服务:定制样品台和测量方式;

● 自动控温:PID自整定连续多点控温。


■晶圆探针台HCP-1W技术参数:


● 样品台尺寸:150mm*150mm(6in.);

● 探针数量:≤4;

● 移动精度:0.01mm;

● 探针XYZ行程:100mm*100mm*10mm;

● 样品台旋转角度:360°、精度±1;

● 样品台侧倾角度:±8°、精度±1;

● 显微镜放大倍数:15x~100x。



■晶圆探针台应用

● 提供材料/器件的IV/CV特性测试;

● LD/LED/PD的光强/波长测试;

● 射频特性器件失效分析;

● 芯片内部线路/电极/PAD测试。

● 



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