探针台的应用场景
电性能测试:提供材料/器件的IV/CV特性、霍尔效应等电学性能测试;
光学测试:LD/LED/PD的光强/波长测试,测量光电材料的光电转换效率和稳定性;
失效分析:射频特性等电子器件失效分析,以帮助定位故障点,进行深入分析;
内部线路测试:芯片内部线路/电极/PAD测试,能够精确地将微小连接点的信号引出,便于进一步的测试和分析;
可靠性分析:对材料进行可靠性验证,确保其在各种条件下的稳定性和耐久性;
微纳尺度操控:在纳米尺度上进行纳米材料的电导率、电阻、电容等电学性质的局部测量;
显微镜观察:结合SEM(扫描电子显微镜)或TEM(透射电子显微镜),探针台可以提供从宏观到纳米尺度的多尺度材料表征;
自动化测试:自动化的晶圆处理系统集成,包括晶圆传输、定位和识别系统, 以提高测试效率和减少人为错误;
特殊环境测试:探针台可以在不同的温度、压力 或特殊气体环境中测试芯片;
上一个:探针台工作原理:精细的结构设计和控制系统的结合
下一个:详细列举探针台的应用领域