高温冷热台光学变温原位测试解决方案

光谷薄膜高温冷热台是一款专为研究样品变温光学性能测试而设计的设备。其控温范围广泛，最高可达600℃（且支持更高温度的定制），能够满足多种复杂测试需求。通过电阻加热的方式，结合液氮降温技术，实现了从-196℃至600℃的精准温度控制，为科研工作者提供了稳定、可靠的测试环境。

核心功能

1. 变温测试能力：冷热台能够精确控制样品所处的温度环境，使样品在设定的温度范围内进行变温测试，从而揭示样品光学性能随温度变化的特征。

2. 集成光学设备：与显微镜、拉曼光谱等光学设备无缝集成，形成完整的变温原位测试系统，实现对样品在变温过程中的光学性能实时监测。

3. PID控温技术：采用PID控温技术，确保温度控制的准确性和稳定性，减少温度波动对测试结果的影响。

4. 定制化数据分析：配套的上位机温控软件不仅方便进行温度设置及采集，还提供丰富的数据统计分析功能，支持客户根据实际需求进行定制化分析。

主要技术参数

• 冷热方式：电阻加热、液氮降温

• 温控范围：-196℃~600℃（支持定制）

• 控温精度：±0.1℃

• 温控方式：PID控温

• 温度传感器：热电偶

应用场景

1. 材料科学研究：研究不同材料在变温条件下的光学性能变化，为材料开发提供数据支持。

2. 电子器件测试：测试电子器件在高温或低温环境下的光学性能，评估其稳定性和可靠性。

3. 生物医学研究：研究生物样本在不同温度下的光学特性，为生物医学研究提供新的视角和方法。

光谷薄膜高温冷热台以其精准的控温能力、广泛的温控范围以及强大的集成测试功能，为科研工作者提供了高效、可靠的变温原位测试解决方案。无论是材料科学研究、电子器件测试还是生物医学研究，都能在这款设备的支持下取得更加深入的研究成果。