光谷薄膜提供可定制的高温探针热台,此热台能够适配霍尔效应测试仪器。高温探针热台是专门为研究样品变温电学性能测试而精心设计的产品,可有效表征样品电学性能随温度变化的特点。该定制产品运用电阻加热的方式,在 RT 至 600℃的范围内实现精准控制,并能与其他电学仪表(如电桥、源表、万用表等)搭配集成,进行变温原位测试。
高温探针热台配备有温度控制器,与之配套的上位机温控软件便于进行温度设置和采集。
冷热方式:电阻加热;
温控范围:室温(RT)至 600℃;
温度稳定性:±0.1℃;
升降温速率:0.1 至 30℃/ 分钟;
温度传感器:热电偶;
光路:反射;
腔室:气氛腔室;
电学接口:BNC 转三同轴 BNC 定制;
外壳冷却:循环水;
适配霍尔效应测试仪器。