探针台在纳米技术领域中是极其重要的工具,在纳米尺度的研究和制造过程中发挥着关键作用。
纳米材料的表征
原子力显微镜(AFM):用于观察纳米材料 的表面结构和性质。
扫描隧道显微镜(STM):适用于导电或半 导电材料的高分辨率成像。
纳米材料的合成与加工
利用探针台集成的纳米操纵系统,可以在纳米尺 度上进行材料的合成、组装或加工,如通过STM 进行分子的精确放置或AFM进行纳米刻蚀。
纳米材料的力学性能研究
AFM可以用来测量纳米材料的硬度、弹性模 量等力学属性,这对于理解和设计纳米复合 材料至关重要。
纳米尺度的电学测量
探针台高精度电学测量,用于研究纳米材 料的电导率、电阻、电容等电学性质 纳米探针技术(Nanoprobing)允许在纳 米尺度上进行电学性能的局部测量。
纳米器件的制造与测试
在纳米电子学中用于制造和测试纳米级的 电路和器件,如纳米线、纳米管、石墨烯 基器件等,还用于评估纳米材料的性能。
多尺度研究
结合SEM(扫描电子显微镜)或TEM(透 射电子显微镜),探针台可以提供从宏观 到纳米尺度的多尺度材料表征。