探针台在微电子领域的应用广泛且深入，对微电子器件的测试､研发和生产过程起到了关键作用｡
微电子器件的电性能测试
IV和CV测量￤探针台可以对各种 微电子器件进行IV（电流-电压） 和CV（电容-电压）测量，以评 估器件的性能和可靠性｡这些测 量是了解器件电学特性的基础｡
高精度测量￤探针台能够进行HV （高压）测量、低电流fA测量以 及微波测量（频率可达1THz毫米 波）等，满足了对微电子器件在 不同条件下的高精度测试需求｡
多参数测试￤除了基本的电学参 数外，探针台还能测量其他与电 性能相关的参数，为微电子器件 的全面评估提供了可能｡
微电子器件的开发与生产
新型微电子器件研发￤在新型微 电子器件的研发过程中，探针台 提供了快速、准确的电性能测试 手段，有助于研究人员了解器件 性能并进行结构和工艺优化｡
生产过程控制￤在微电子器件的 生产过程中，探针台可以实现自 动化､高效的电性能测试，对部 分产品进行抽样测试，以确保生 产过程的稳定性和产品质量｡
故障分析￤当微电子器件出现故 障时，探针台能够在微米或纳米 尺度上进行精确的定位，帮助快 速识别故障原因和位置，为后续 的修复和改进提供依据｡
失效分析与可靠性验证
微小连接点信号引出￤探针台能 够精确地将微小连接点的信号引 出，便于进一步的测试和分析｡
失效分析确认￤通过探针台进行 的电性能测试，可以确认半导体 器件的失效模式和原因，为改进 设计和生产工艺提供反馈｡
FIB电路修改后的电学特性验证￤ 在聚焦离子束（FIB）技术修改电 路后，探针台可用于验证修改后 的电学特性是否符合预期｡
晶圆可靠性验证￤探针台还可以 对晶圆进行可靠性验证，确保其 在各种条件下的稳定性和耐久性｡
