探针台在半导体行业中的应用涵盖了从研发到生产各个环节的测试需求｡
晶圆测试 (Wafer /CP Test)￤包括但不限于电流､电压､电阻､电 容､频率响应､功耗､信号完整性等｡
研发测试￤在芯片开发阶段，用于验证设计 的正确性，测试原型芯片的性能｡
失效分析 (Failure Analysis)￤当芯片出现故障时，探针台可用 于定位问题所在的具体芯片位置， 进一步分析故障原因｡
工艺监控￤用于监控制造过程中的晶圆质量，通 过对特定批次的晶圆进行测试，可以 检查工艺变化对芯片性能的影响｡
高级测试￤对于高性能和复杂芯片，如CPU､ GPU､ASIC等，探针台需要具备高精 度和高速度的测试能力｡
特殊环境测试￤探针台可以在不同的温度､压力 或特殊气体环境中测试芯片｡
自动化和集成￤自动化的晶圆处理系统集成，包 括晶圆传输､定位和识别系统， 以提高测试效率和减少人为错误｡
封装前测试￤在芯片被切割并准备封装前，探针台 可以用来测试芯片是否符合性能标准， 这样可以减少不良率｡
上一个：探针台的应用领域广泛且多样
下一个：探针台在光电元件和器件的测试与分析中均有应用
