探针台(Probe Station)是一种用于对半导体器件进行电性能测试的设备｡
探针台是一种用于半导体器件电性能测试的关键设备，它通过精密的机械
结构､高性能的探针针头和电性能测试仪器，对半导体芯片､集成电路和
其他微电子器件进行直接的电性能测试｡
探针台具备高精度､高灵敏度以及环境适应性强的特点，能够支持集成光
学测试､电磁测试等多种测试手段，为半导体器件的全面性能评估提供有
力支持｡
探针台是用于半导体器件､集成电路和其他微电子元件的电学特性测试的 重要设备，被广泛应用于研发､质量控制和生产测试中｡
