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集成电路缺陷、故障和失效分析可以用探针台来做

集成电路缺陷、故障和失效是集成电路设计和制造过程中的重要概念。在研发阶段用探针台来检测是比较常见的。


通常、集成电路有两种工作状态¦正常和非正常。


导致集成电路处于非正常工作状态的因素包括设计过程中考虑不周全和制造过程中的一些物理、化学因素。


上述造成集成电路不符合技术条件从而不能正常工作的各种因素统称为集成电路缺陷。


如果集成电路缺陷导致其功能发生变化、则称为故障。故障有可能导致集成电路失效、但也有可能会不失效。


故障诊断可以通过集成电路测试来确定其故障、因此有时也称为故障检测。


故障检测主要检验电路是否实现了预定的功能、是否发生了故障。


故障定位是在故障检测的基础上进一步确定发生了何种故障。


探针台可以对集成电路缺陷、故障和失效分析都是有一定的帮助的!

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