专注于薄膜材料低温测试仪器研发及技术服务

专注创新成长勤勉

您现在的位置：冷热台_探针台_低温恒温器_液氮低温恒温器 > 测试案例 > 中科院上海微系统所测试SiO2薄膜样品热导数据

测试案例

中科院上海微系统所测试SiO2薄膜样品热导数据

日期： 07-20 16:35

中科院上海微系统所薄膜热导测试系统TCT-3，测试SiO2薄膜样品热导数据

中科院上海微系统所测试SiO2薄膜样品热导数据

上一个：中科院化学所测试导电高分子薄膜样品Seebeck系数和电阻率 ... 下一个：大连理工大学测试CuNiFe样品电阻率随温度变化结果

全国咨询热线24 hours service hotline

13164676739

027-86645269

网站首页关于我们产品中心测试中心新闻动态服务支持联系我们产品百科 Sitemap

武汉光谷薄膜技术有限公司版权所有
地址：湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号C1-1综合保税区一期01号标准厂房5层北面部分区域01室
手机：13164676739 微信：15629038374 电话：027-86645269
武汉光谷薄膜技术有限公司鄂ICP备2024045272号-1

菲菲:
手机（微信）:
13164676739
陈经理:
手机（微信）:
15629038374