专注于薄膜材料低温测试仪器研发及技术服务

专注创新成长勤勉

您现在的位置：冷热台_探针台_低温恒温器_液氮低温恒温器 > 测试案例 > 大连理工大学测试CuNiFe样品电阻率随温度变化结果

测试案例

大连理工大学测试CuNiFe样品电阻率随温度变化结果

日期： 04-11 16:38

大连理工大学使用薄膜变温电阻测试仪TRT-3测试CuNiFe样品电阻率随温度变化结果

大连理工大学测试CuNiFe样品电阻率随温度变化结果

上一个：中科院上海微系统所测试SiO2薄膜样品热导数据下一个：山东大学测试钛酸锶样品的霍尔系数、电阻率、载流子浓度、迁移率 ...

全国咨询热线24 hours service hotline

15629038374

027-86645269

网站首页关于我们产品中心测试中心新闻动态服务支持联系我们产品百科 Sitemap

武汉光谷薄膜技术有限公司版权所有
地址：湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号C1-1综合保税区一期01号标准厂房5层北面部分区域01室
手机：15629038374 微信：电话：027-86645269
武汉光谷薄膜技术有限公司鄂ICP备2024045272号-1

陈经理:
手机（微信）:
15629038374