冷热台在GaN基压力传感器变温测试中的应用

在航空航天、汽车电子等高端领域，GaN（氮化镓）基压力传感器是“极端环境的眼睛”——能在-55℃的高空低温，或是300℃的工业高温下，精准捕捉压力信号。但这类传感器有个“小脾气”：温度一波动，灵敏度、稳定性就容易“掉链子”，甚至直接失效。

对研发和生产GaN基压力传感器的企业来说，能不能精准模拟实际工况的温变，做好变温测试，直接决定了器件的性能上限。我们自研的高精度冷热台，就针对性解决了这一痛点，还通过实际测试案例，验证了方案的实用性，今天就带大家一起看看！

核心问题：为什么GaN基压力传感器，必须做变温测试？

GaN基压力传感器的核心是AlGaN/GaN异质结，里面的二维电子气（简单理解为“信号传输载体”）对温度特别敏感。我们实测发现，当温度从室温升到250℃，传感器灵敏度会翻倍，但超过300℃后，内部结构会出现“不稳定”，信号漂移严重；而到了-55℃的低温环境，又会出现响应延迟的问题。

传统测试设备要么温域不够宽，要么控温精度差，模拟不了极端工况，测出的性能数据和实际使用情况偏差很大，很容易导致器件出厂后失效，给企业带来损失。

光谷薄膜冷热台，就是为解决这个问题而来，结合我们服务某航空航天配套企业的实际测试案例，更能看出它的优势。

【实测案例】

某大学利用该方案测定不同温度不同压力下GaN-HEMTs的电学参数。

变温台，配合压力计、半参仪，使客户实现对压力传感器芯片在不同压力下不同温度下的测试。

光谷薄膜一直聚焦第三代半导体测试痛点，自研的冷热台已广泛应用于GaN、SiC等宽禁带半导体器件测试。不管是GaN基压力传感器的变温测试，还是其他半导体器件的温特性测试，我们都能提供定制化解决方案。