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企业动态

光谷薄膜探针台HCP系列

光谷薄膜探针台 HCP系列采用精密的机械结构、高性能的探针以及稳定的温度、真空控制系统,为样品测量电特性提供高精度可控测量环境。其核心参数包括:

- 温度范围:-190~400°C

- 控温精度:±0.1°C

- 最大升温速率:80°C/min

- 最大降温速率:50°C/min

光谷薄膜探针台 HCP系列

该探针台可实现精准可靠的测试与测量分析,帮助精准测量和分析判断晶圆器件的性能,包括提供材料/器件的IV/CV特性测试、LD/LED/PD的光强/波长测试,射频特性器件失效分析,芯片内部线路/电极/PAD测试等技术解决方案。它可以应用于集成电路、功率器件类晶圆的高低温测试、高压测试、大电流测试、坏点重测、WAT测试、射频测试等领域。


以下是一些客户案例:

- 基础测试

- 高低温真空探针台

- 保护气氛电路测坛

- 超高频探针台

tag标签: 探针台,光谷薄膜,
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